华泰联合证券有限责任公司关于胜科纳米(苏州)股份有限公司首次公开发行股票并在科创板上市之上市保荐书

华泰联合证券有限责任公司
关于胜科纳米（苏州）股份有限公司
首次公开发行股票并在科创板上市之上市保荐书
上海证券交易所：
作为胜科纳米（苏州）股份有限公司（以下简称“发行人”、“公司”或“胜科纳米”）首次公开发行股票并在科创板上市的保荐机构，华泰联合证券有限责任公司（以下简称“华泰联合证券”、“保荐机构”或“保荐人”）及其保荐代表人已根据《中华人民共和国公司法》（以下简称“《公司法》”）、《中华人民共和国证券法》（以下简称“《证券法》”）等法律法规和中国证券监督管理委员会（以下简称“中国证监会”）及贵所的有关规定，诚实守信，勤勉尽责，严格按照依法制定的业务规则和行业自律规范出具上市保荐书，并保证所出具文件真实、准确、完整。
现将有关情况报告如下：
一、发行人基本情况
（一）发行人概况
注册名称（中文）：胜科纳米（苏州）股份有限公司
注册名称（英文）：Wintech Nano (Suzhou) Co., Ltd.
注册资本：36,298.0337 万元
法定代表人：李晓旻
成立日期：2012 年 8 月 17 日
住所和邮政编码：中国（江苏）自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区金鸡
湖大道 99 号苏州纳米城西北区 09 栋 507 室（215123）
电话号码：0512-62800006
传真号码：0512-60800007

互联网网址：www.wintech-nano.com
电子信箱：IR@wintech-nano.com
负责信息披露和投资者关系的部门：证券事业部
负责人：周秋月
联系电话：0512-62800006
（二）发行人的主营业务、核心技术和研发水平
1、发行人的主营业务
公司是行业内知名的半导体第三方检测分析实验室，主要服务于半导体客户的研发环节，可以为半导体全产业链客户提供样品失效分析、材料分析、可靠性分析等专业、高效的检测实验。半导体检测分析是半导体产业链中的重要环节，检测分析实验有助于加速客户研发进程、提升产品性能指标及良品率，在半导体技术发展、工艺演进的过程中发挥重要作用。公司通过专业精准的检测分析服务，判断客户产品设计或工艺中的缺陷，助力客户提升产品良率与性能，成为半导体领域产品研发和品质监控的关键技术支撑平台，承担辅助客户研发的重要角色。凭借多元化的检测分析项目与专业精准的诊断能力，公司可以协助客户解决产品开发、工艺改良等方面的疑难杂症，被形象地喻为“芯片全科医院”。
公司创始人最初于 2004 年在新加坡创立商业化第三方检测分析实验室，2012 年，公司创始团队紧抓国内半导体产业向中高端发展的契机，在苏州成立胜科纳米，形成境内外业务布局。目前，除在新加坡、苏州两地设有实验室外，公司已在南京、福建、深圳、青岛建立实验室，并在马来西亚设立市场服务团队，持续扩张检测分析服务半径，逐步跻身半导体第三方检测分析行业前列。
公司深耕半导体检测分析行业多年，检测分析实验覆盖范围广泛全面，掌握的检测分析技术应用于集成电路、分立器件、光器件、传感器、显示面板等众多领域，客户类型覆盖芯片设计、晶圆代工、封装测试、IDM、原材料、设备厂商、模组及终端应用等半导体全产业链。通过精准可靠的检测技术、全面多元的测试项目、高效及时的响应速度、有效完善的研发体系、优质丰富的客户资源以及布局合理的营销服务网络，公司在半导体检测领域形成了突出的品牌效应，目前已
累计服务全球客户 2,000 余家。公司典型客户包括国内外知名芯片设计厂商卓胜
微、高通、博通；国内头部晶圆代工厂华虹集团；全球封测巨头日月光、长电科
技；全球领先半导体设备供应商应用材料、北方华创；国内显示面板龙头京东方、
天马微；国内 LED 芯片龙头华灿光电等。凭借业内领先的分析实验能力，公司
赢得了客户的高度认可，是亚太地区首家获得赛灵思官网认可的第三方检测分析
实验室；同时，公司与赛默飞、日立、蔡司等全球顶尖分析仪器厂商建立了良好
的战略合作关系，并积极开展在分析实验技术领域的深度交流。2020 年以来，
公司在国际核心期刊以及行业会议论坛等发表论文 50 余篇，部分研究成果被国
际科学仪器巨头引用为技术应用范文。
自设立以来，公司在研发创新领域方面持续加大投入，在半导体检测分析领
域拥有深厚的技术积累，在检测分析技术、测试样品制备、测试治具改造等方面
形成了 20 余项核心技术，拥有中国合格评定国家认可委员会（CNAS）认可的
70 余项检测项目、检验检测机构资质认定（CMA）认可的 20 余项检测项目，并
获得 ISO9001 国际品质管理认证、ISO17025 国际实验室质量认证等。公司已建
立江苏省半导体芯片分析测试工程技术研究中心、江苏省服务型制造示范半导体
分析测试平台，积极参与国家级重大科研项目，作为主要起草单位参与制定已发
布的 6 项国家标准及 5 项行业标准，并先后荣获国家级专精特新“小巨人”、全
国生产力促进（创新发展）一等奖、江苏省现代服务业高质量发展领军企业、江
苏省研发型企业、江苏省潜在独角兽企业、“中国芯”集成电路优秀支撑服务企
业、新加坡时代财智“亚洲最具创新力企业”等奖项。
2、发行人的核心技术
作为半导体第三方检测分析实验室，公司凭借持续的研发创新与技术积累，
目前已在失效分析、材料分析、可靠性分析等领域掌握多项成熟的检测分析技术
与样品制备技术，并拥有检测设备治具加工改造技术，构建起全方位、多元化的
一站式检测分析平台。
公司掌握的主要核心技术情况如下：
序号 类型 核心技术名称 技术来源 应用范围 对应专利情况
一、特定 1 水汽入侵重水同位素示踪 自主研发 失效分析 封装器件水汽入侵路径检测方法及装置
分析方 技术 （ZL202210164278.7）

序号 类型 核心技术名称 技术来源 应用范围 对应专利情况
案类技 超微裂纹纳米荧光检测分 三碘化物离子作为荧光剂的应用以及检测有
术 2 析技术 自主研发 失效分析 机发光显示薄膜封装层超微裂缝的方法
（ZL202010140852.6）
3 半导体芯片焊盘检测分析 自主研发 失效分析 一种待 XPS 能谱分析的样品和分析定位方法
技术 （ZL202310290092.0）
一种电路板中的盲孔失效分析方法
高密度印刷电路板开路失 （ZL.202410444853.8）；一种微型麦克风多层
4 效定位分析技术 自主研发 失效分析 载板的短路失效分析方法
（ZL.202410447658.0）；一种夹具及 X 射线
成像系统（ZL202320643895.5）
测量 VCSEL 器件多层膜元素扩散的样品制备
5 激光芯片失效分析技术 自主研发 失效分析、 方法以及检测方法（ZL202110928350.4）；一
材料分析 种用于有机体器件内部异物分析的制样及检
测方法（在审）
6 LED及Micro LED芯片测 自主研发 失效分析、 一种用于动态二次离子质谱仪的样品的制备
试及表征技术 材料分析 方法及其制得的样品（ZL202010055783.9）
7 基于算法的光学图像识别 自主研发 失效分析 -
IMC 覆盖率分析技术
8 第三代半导体 PN 结漏电 自主研发 失效分析 检测硅晶体缺陷的方法（ZL201410314199.5）
失效定位技术
9 先进封装芯片的破坏性物 自主研发 失效分析、 一种 3D 堆叠封装集成电路芯片及其失效定位
理分析技术 材料分析 方法和装置（ZL202210371179.6）
失效分析、 一种半导体芯片截面结构的检测方法
10 高精度研磨抛光制样技术 自主研发 材料分析 （ZL202210453901.0）；一种半导体芯片样品
剖面的研磨制样方法（ZL202211691068.X）
11 高精度开封制样技术 自主研发 失效分析、 一种芯片开裂的失效根因溯源的分析方法及
材料分析 设备（ZL202211462990.1）
二 一种具有梳齿结构芯片的梳齿层去除方法
、 12 芯片精准去层制样技术 自主研发 失效分析、 （ZL202310063255.1）；一种芯片去层方法
具